标准硬件
追求性能与可靠性的完美统一
LJ-X8020
从轮廓测量到3D检测,支持广泛应用 超高的高精细测量:采用 3200 points/profile 超高精度测量,可以超精确地绘制出目标形状物。 可支持各种材质:抑制多重反射、漫反射等的影响,表现稳定的形状。 设定只需3步:不需要复杂的检测设定、编程,只需三步即可完成测量、检测所需的设定。
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LJ-X8060
从轮廓测量到3D检测,支持广泛应用 超高的高精细测量:采用 3200 points/profile 超高精度测量,可以超精确地绘制出目标形状物。 可支持各种材质:抑制多重反射、漫反射等的影响,表现稳定的形状。 设定只需3步:不需要复杂的检测设定、编程,只需三步即可完成测量、检测所需的设定。
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LJ-X8080
从轮廓测量到3D检测,支持广泛应用 超高的高精细测量:采用 3200 points/profile 超高精度测量,可以超精确地绘制出目标形状物。 可支持各种材质:抑制多重反射、漫反射等的影响,表现稳定的形状。 设定只需3步:不需要复杂的检测设定、编程,只需三步即可完成测量、检测所需的设定。
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LJ-X8200
从轮廓测量到3D检测,支持广泛应用 超高的高精细测量:采用 3200 points/profile 超高精度测量,可以超精确地绘制出目标形状物。 可支持各种材质:抑制多重反射、漫反射等的影响,表现稳定的形状。 设定只需3步:不需要复杂的检测设定、编程,只需三步即可完成测量、检测所需的设定。
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LJ-X8400
从轮廓测量到3D检测,支持广泛应用 超高的高精细测量:采用 3200 points/profile 超高精度测量,可以超精确地绘制出目标形状物。 可支持各种材质:抑制多重反射、漫反射等的影响,表现稳定的形状。 设定只需3步:不需要复杂的检测设定、编程,只需三步即可完成测量、检测所需的设定。
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LJ-X8900
从轮廓测量到3D检测,支持广泛应用 超高的高精细测量:采用 3200 points/profile 超高精度测量,可以超精确地绘制出目标形状物。 可支持各种材质:抑制多重反射、漫反射等的影响,表现稳定的形状。 设定只需3步:不需要复杂的检测设定、编程,只需三步即可完成测量、检测所需的设定。
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